제품/솔루션끊임없는 혁신과 더 나은 기술력으로
글로벌 시장을 선도하는 기업으로 도약하겠습니다.
LCR Meter 및 Impedance 분석기
- 오실로스코프
- DC 전원 공급기,분석기
- 디지털 멀티미터(DMM)
- 펑션,임의 파형 발생기
- LCR Meter 및 Impedance 분석기
- 소스미터(SMU)
- 데이터 수집 제어 장치(DAQ)
- AC, 전원소스,분석기
- 주파수 카운터
- 열화상 카메라
- DC전자로드
- GPIB 및 연결 솔루션
- 비트 에러율 측정기
- 프로토콜 분석기
- 펄스,패턴 발생기
- 로직 분석기
- 악세서리
E5061B ENA 벡터 네트워크 분석기
- 100 kHz to 1.5 GHz / 3 GHz
- Transmission / Reflection test set and S-parameter test set
- 50 Ω and 75 Ω system impedance
- LF-RF NA option
- 5 Hz to 3 GHz
- 50 Ω S-parameter test set
- Gain-phase test port (1 MΩ / 50 Ω inputs)
- DC-bias source
- Impedance analysis function (option 005)
| 50 Ω RF NA options | |
| E5061B-115 | Transmission/Reflection test set, 100 kHz to 1.5 GHz, 50 Ω system impedance |
| E5061B-215 | S-parameter test set, 100 kHz to 1.5 GHz, 50 Ω system impedance |
| E5061B-135 | Transmission/Reflection test set, 100 kHz to 3 GHz, 50 Ω system impedance |
| E5061B-235 | S-parameter test set, 100 kHz to 3 GHz, 50 Ω system impedance |
| 75 Ω RF NA options | |
| E5061B-117 | Transmission/Reflection test set, 100 kHz to 1.5 GHz, 75 Ω system impedance |
| E5061B-217 | S-parameter test set, 100 kHz to 1.5 GHz, 75 Ω system impedance |
| E5061B-137 | Transmission/Reflection test set, 100 kHz to 3 GHz, 75 Ω system impedance |
| E5061B-237 | S-parameter test set, 100 kHz to 3 GHz, 75 Ω system impedance |
| LF-RF NA option | |
| E5061B-3L5 | LF-RF network analyzer with DC bias source, 5 Hz to 3 GHz |
| (제품사양서) E5061B Network Analyzer | 다운 |
